Núm. 58 (2013)

Portada: Fotografías tomadas por Víctor Sayil López Ãlvarez, técnico del Microscopio Electrónico de Barrido del Instituto de Investigaciones Metalúrgicas. Imágenes de microscopía electrónica de barrido cortesía del Dr. José Lemus Ruiz autor de uno de los artículos publicados en este número. Las imágenes muestran la transformación de fase de las partículas a-Si3N4 a fibras hexagonales de b-Si3N4 que ocurre duran te la Sinterización por Impulsos Eléctricos del cerámico a 1500°C por 3 minutos. Con esta técnica es posible alcanzar velocidades de calentamiento de hasta 600°C/min y se pue de observar la transformación cristalina del nitruro de silicio (a a b), lo cual es imposible encontrar por técnicas tradicionales que requieren tiempos de sinterización de hasta 3 horas. Información adicional puede consultarse en la Tesis Doctoral de Leonel Ceja Cárdenas: Efecto de la cantidad de aditivo durante el proceso de sinterización-SPS, unión y oxidación de nitruro de silicio. Instituto de Investigaciones Metalúrgicas (IIM), UMSNH, 2013.